在芯(xin)片(pian)封(feng)測領(ling)域，測試數(shu)據(ju)的(de)(de)解析(xi)與(yu)(yu)分(fen)(fen)析(xi)是確(que)保產品(pin)質(zhi)量與(yu)(yu)生產效(xiao)率(lv)的(de)(de)關(guan)鍵。然而，面對機型差異帶(dai)來(lai)(lai)的(de)(de)數(shu)據(ju)格(ge)式(shi)多樣化以及提高(gao)測試覆蓋率(lv)帶(dai)來(lai)(lai)海(hai)量數(shu)據(ju)的(de)(de)雙重挑戰，傳統的(de)(de)人工分(fen)(fen)析(xi)顯得效(xiao)率(lv)低下、易出(chu)錯，且高(gao)度依(yi)賴(lai)工程師個人經驗，嚴重制約(yue)了數(shu)據(ju)分(fen)(fen)析(xi)的(de)(de)客觀性與(yu)(yu)準(zhun)確(que)性。因此，需要一(yi)種(zhong)能夠打破數(shu)據(ju)格(ge)式(shi)壁壘、高(gao)效(xiao)處理(li)海(hai)量數(shu)據(ju)、實現標準(zhun)化與(yu)(yu)智(zhi)能化分(fen)(fen)析(xi)的(de)(de)新方案，成為了芯(xin)片(pian)封(feng)測行業(ye)的(de)(de)迫切需求。

問題痛點：

數據(ju)格(ge)式多(duo)樣(yang)接入難：由于機型的(de)差異(yi)，生成(cheng)的(de)測試數據(ju)格(ge)式多(duo)樣(yang)化，給數據(ju)的(de)整合(he)與(yu)處理帶來了巨(ju)大障礙。

海量數據處理難：隨著長年累(lei)月數據量的(de)(de)飆(biao)升，傳統(tong)的(de)(de)人(ren)工(gong)處理方式已無法應對龐大的(de)(de)數據規模(mo)，處理效率低下、人(ren)工(gong)處理易(yi)錯成為了(le)一個(ge)亟待解決(jue)的(de)(de)問題(ti)。

測試數據分(fen)析(xi)難：工程師手(shou)動分(fen)析(xi)方式高度依賴分(fen)析(xi)人員的(de)經驗，缺乏專業方法帶來的(de)客觀(guan)性和準確(que)性，既要(yao)(yao)降(jiang)低人為影響，又要(yao)(yao)借助專家經驗，需探索出更加(jia)客觀(guan)、標(biao)準化的(de)數據分(fen)析(xi)方法。

報(bao)告規格(ge)多(duo)制作難：面對上游客戶的稽核需(xu)(xu)求(qiu)，通(tong)常需(xu)(xu)要5~7天(tian)才(cai)能找到根因并產出(chu)報(bao)告，如何快速分析數據并導出(chu)不(bu)同格(ge)式、符合(he)要求(qiu)的報(bao)告，成(cheng)為(wei)了提升工程師產出(chu)的重要難題。

解決方案：

泰治科技憑借(jie)在半(ban)導體數據處理與分析(xi)領域的深厚積累，不斷迭代(dai)YMS系統，為業界提供了一站式智能解(jie)析(xi)解(jie)決方案。

 多樣數據接(jie)(jie)入(ru)：能(neng)夠(gou)接(jie)(jie)入(ru)STDF、XLSX、CSV等在內的多種測試(shi)數據格式(shi)，統一標準(zhun)接(jie)(jie)入(ru)系(xi)統。

數據導入

一鍵式智慧分(fen)析(xi)：數(shu)(shu)(shu)據上傳后，用戶只需(xu)一鍵操作，即可(ke)跳轉至常(chang)用分(fen)析(xi)模板(ban)。該模板(ban)可(ke)按Performance、BIN、測試(shi)Site、Die、測試(shi)項、PIN等維(wei)度(du)生成報告看板(ban)，實現了數(shu)(shu)(shu)據的多角度(du)分(fen)析(xi)，讓復雜數(shu)(shu)(shu)據關系清晰化。

高效自動(dong)化分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)：YMS系統基于大數(shu)據(ju)平臺(tai)實現(xian)，內(nei)嵌的(de)(de)(de)行業標準分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)模(mo)型與算法，為海(hai)量的(de)(de)(de)測試數(shu)據(ju)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)提供有(you)效分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)手段(duan)。通過大數(shu)據(ju)的(de)(de)(de)自動(dong)化分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)，降(jiang)低(di)數(shu)據(ju)分(fen)(fen)(fen)析(xi)(xi)(xi)(xi)(xi)的(de)(de)(de)門檻與復雜(za)度。

個性化定制(zhi)分(fen)(fen)析(xi)：YMS系統滿足用(yong)戶的(de)個性化需求，支持高(gao)度(du)靈活的(de)用(yong)戶自(zi)定義(yi)分(fen)(fen)析(xi)功(gong)能。用(yong)戶可(ke)根據自(zi)身業務需求，制(zhi)作專屬的(de)數據分(fen)(fen)析(xi)模(mo)板并保存(cun)，可(ke)用(yong)于類似(si)場景下數據分(fen)(fen)析(xi)的(de)直接(jie)使用(yong)以及(ji)司內分(fen)(fen)析(xi)邏(luo)輯共(gong)享。

 多(duo)格式測報導出：系統能(neng)夠按照設定導出PPT、PDF、EXCEL等多(duo)種格式的測試報告，可根據時間、事件(jian)等指標觸發(fa)，解決了不同場(chang)景下測試報告呈現方式的多(duo)樣化需求(qiu)。

測試項(xiang)分(fen)析模板

案例分析

 MT1000輸出的CP、FT測(ce)試數(shu)據(ju)是xls格(ge)式。在泰治YMS系(xi)(xi)統(tong)中通過簡單配置后，即(ji)可自(zi)動接(jie)入解析(xi)，系(xi)(xi)統(tong)能(neng)夠(gou)自(zi)動識別是CP還(huan)是FT數(shu)據(ju)，并(bing)按(an)照數(shu)據(ju)特(te)點進行(xing)分析(xi)呈現。用戶(hu)在系(xi)(xi)統(tong)內(nei)僅需選(xuan)中批(pi)次(ci)，一(yi)鍵(jian)分析(xi)，即(ji)可獲(huo)得分析(xi)結果與報告(gao)。

PPT測報導出

對于個性化(hua)的分(fen)析(xi)(xi)需求，用戶(hu)可(ke)在(zai)系(xi)統(tong)中逐步深入下(xia)鉆分(fen)析(xi)(xi)：通過良率(lv)分(fen)析(xi)(xi)下(xia)鉆到(dao)BIN分(fen)析(xi)(xi)再下(xia)鉆到(dao)測(ce)(ce)試Site分(fen)析(xi)(xi)，如有(you)需要還可(ke)以下(xia)鉆到(dao)Die 及測(ce)(ce)試項Cpk報(bao)告，從而完成不同層(ceng)級的測(ce)(ce)試數據分(fen)析(xi)(xi)。在(zai)測(ce)(ce)試項分(fen)析(xi)(xi)里，可(ke)以使用N倍Sigma 的方式(shi)進行動(dong)態(tai)上下(xia)限與離群值分(fen)析(xi)(xi)。

系統支持(chi)用(yong)戶自行調整分析(xi)模板(ban)(ban)，包括分析(xi)版(ban)塊、樣式以及自定義的(de)分析(xi)指(zhi)標等。保存分析(xi)模板(ban)(ban)后，用(yong)戶后續遇到類似(si)的(de)分析(xi)場景時可快(kuai)速使用(yong)模板(ban)(ban)，從而提高了測試數據分析(xi)的(de)效率(lv)和一(yi)致性(xing)。

完成分析(xi)后(hou)，可將分析(xi)結果導出為PDF、PPT或EXCEL等格式的(de)測報，便(bian)于用戶線下傳遞及留存(cun)歸檔。

方案價值

泰治科技(ji)YMS系統為半導體(ti)行業(ye)的(de)CP、FT、WAT等領域提供(gong)專業(ye)的(de)智能(neng)化(hua)分析模版(ban)，并支(zhi)持個性化(hua)的(de)動態調整，全面提升客(ke)戶生(sheng)產過程的(de)數據(ju)分析能(neng)力和(he)決策能(neng)力，顯著提升了(le)分析效率與報(bao)告質量，促進了(le)企業(ye)的(de)降本增效，獲(huo)得客(ke)戶一致好評。